Jakarta, Technology-Indonesia.com – Lembaga Ilmu Pengetahuan Indonesia (LIPI) melalui Pusat Penelitian (Puslit) Fisika di Laboratorium Focused Ion Beam (FIB) menciptakan dan merilis Kartu Ucapan Tahun Baru 2018 berukuran 25 mikrometer atau sebesar virus polio, jenis virus dengan ukuran terkecil.
Ukuran kartu ucapan tersebut hampir sama dengan ukuran kartu natal terkecil di dunia yang dirilis oleh National Physical Laboratory (NPL) di Inggris beberapa waktu lalu. Kartu natal tersebut berukuran 15×20 mikron, lebih kecil dari ukuran rambut manusia seukuran 50-80 mikron (1 mikro = 1/1.000.000m).
Kartu ucapan ini dibuat menggunakan Dual- Beam FIB dengan metode proses ukiran (engraving) di atas material wafer silikon dengan memanfaatkan energi yang dihasilkan dari tembakan ion galium. Saat ini, teknologi Dual-Beam FIB yang dimiliki Puslit Fisika LIPI menjadi satu-satunya yang ada di Indonesia.
Peneliti dan pakar karakterisasi nano material Puslit Fisika LIPI, Eni Sugiarti mengatakan pembuatan kartu ucapan tahun baru oleh Tim Peneliti Laboratorium FIB Puslit Fisika LIPI ini menandai kemajuan iptek yang dicapai para peneliti anak bangsa.
“Kami bertekad untuk terus berkontribusi dalam pengembangan ilmu pengetahuan. Ini adalah salah satu itikad kami para peneliti untuk memperkenalkan teknologi terbaru yang Indonesia miliki kepada masyarakat luas,” ungkap Eni dalam siaran pers di Jakarta, Minggu (31/12/2017).
Kepala Puslit Fisika LIPI, Rike Yudianti menyatakan, fasilitas Dual-Beam FIB ini terbuka untuk masyarakat luas. “Semua kalangan boleh memanfaatkannya. Kita bisa riset bersama nanti. Boleh dari kalangan mahasiswa, dosen, peneliti swasta, industri, bahkan kalangan pelajar. Tidak hanya FIB, alat lain yang kami punya seperti TEM, SEM, XRD, BET, FTIR, dan yang lain-lain juga bisa dimanfaatkan,” tuturnya.
Dual Beam FIB dilengkapi dengan empat detektor yang terdiri dari Secondary Electron, Back Scattered Electron, Energy Dispersive Spectroscopy (EDS), dan Electron Backscattered Diffraction (EBSD), serta dilengkapi pula omniprobe in-situ pick up system. Dual Beam FIB juga dilengkapi teknologi Schottky Field Emitter Gun (FEG) dan Galium Liquid Metal Ion source (GIS) dengan material carbon, tungsten dan platina.
Peralatan ini dapat berfungsi sebagai Field Emission-Scanning Electron Microscopy (FE-SEM), Peralatan pendukung preparasi sampel mikroskop transmisi/Transmission Electron Microscopy (TEM), serta Nano patterning/Scanning Vector.
Alat ini juga berfungsi membuat dua dimensi dan tiga dimensi gambar nanostruktur, EDS dan EBSD yang memungkinan pengambilan data kuantitatif menggunakan mode point, mapping dan line analysis untuk EDS serta proses tiga dimensi yang dapat direkam dalam bentuk video. Peralatan ini dilengkapi cooling stage sehingga memungkinkan pengamatan sampel-sampel yang bersifat non konduktif seperti beberapa aplikasi di bidang life sciences, polymer, dan sebagainya.
“Dengan adanya teknologi ini, diharapkan kualitas penelitian di Indonesia terus meningkat dan tidak kalah dengan teknologi yang telah ada di negara-negara maju lainnya,” pungkas Rike.
